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  • Axios FAST

    同步 WDXRF 光譜儀多元素化學(xué)成分分析時間關(guān)鍵型和高通量應(yīng)用的理想選擇

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    更新日期:2026-03-03
  • 2830 ZT

    2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計,該儀器可為多種晶片(厚達 300 mm)測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。

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  • Micromeritics ASAP 2425

    高容量表面積和孔隙率分析六個獨立運行的分析端口12 個內(nèi)置脫氣站

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  • Micromeritics ASAP 2460

    高性能表面積和孔隙度分析。兩個、四個或六個獨立運行的分析端口全自動化運行

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    更新日期:2026-03-03
  • NanoSight Pro

    選用值得信賴的納米顆粒追蹤分析系統(tǒng) (NTA) NanoSight Pro,收獲您所需的清晰檢測結(jié)果。 使用 OmniTrust:Malvern Panalytical 針對受監(jiān)管環(huán)境的合規(guī)性解決方案

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  • Micromeritics 3Flex氣體吸附儀

    Micromeritics 3Flex氣體吸附儀 提供表面積測定、孔隙率測定、化學(xué)吸附和程序升溫方法。用于測量微孔固體表面積和孔隙率的高性能氣體吸附分析儀集成蒸汽吸附功能,可測量表面疏水性/親水性或特定應(yīng)用的吸收率靜態(tài)和動態(tài)化學(xué)吸附功能,可表征活性表面單個樣品可在一臺儀器上實現(xiàn)物理吸附、化學(xué)吸附和蒸汽吸附

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